正置(明暗場)芯片檢查顯微鏡廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。

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　　產品用途大平臺檢測顯微鏡是專為IT行業大面積集成電路，晶片的質量檢測而設計開發制造的，主體為正置式，三目鏡筒，比傳統的顯微鏡更適合于觀察。適用于電子、機械、化工、科研、院校等部門，以及金相技術檢驗、失效分析等。

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　　59XC透反射偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校最常用的專業實驗儀器之一，用于不透明物體或半透明物體，可以同時采用透射光和反射光觀察.近年來，隨著光學技術的不斷進步，作為光學儀器的偏光顯微鏡，其應用也越來越廣泛。

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　　59XC透反射偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校最常用的專業實驗儀器之一，用于不透明物體或半透明物體，可以同時采用透射光和反射光觀察.近年來，隨著光學技術的不斷進步，作為光學儀器的偏光顯微鏡，其應用也越來越廣泛。

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　　102XB工業金相顯微鏡是針對半導體工業、硅片制造業、電子信息產業、冶金工業需求而開發的。作為高級金相顯微鏡用戶在使用時能夠體驗其超強性能，可廣泛應用于半導體、FPD、電路封裝、電路基板、材料、鑄件/金屬/陶瓷部件、精密模具的檢測，可觀察較厚的標本

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　　4XC金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內部結構組織，為金屬物理學研究金相的重要工具。本儀器配有攝影裝置，可拍攝金相圖譜所需的整倍數照片，適用于廠礦企業、高等院校及科研等部門。

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　　金相顯微鏡主要用于鑒定和分析金屬內部結構組織，它是金屬學研究金相的重要儀器，是工業部門鑒定產品質量的關鍵設備；本儀器廣泛用于機械工業的金相組織觀察分析，地礦部門對礦物的分析研究，電子等方面的觀察測量，是工廠、高等院校、科研機構及電子工業。

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　　本儀器是用于鑒別和分析各種金屬和合金的組織結構，可廣泛應用在工廠或實驗室進行鑄件質量的鑒定，原材料的檢驗或對材料處理后金相組織的研究分析等。本儀器是倒置式金相顯微鏡，由于試樣被觀察表面與工作臺表面重合，因此與試樣高度無關，使用方便，儀器結構緊湊，外形美觀大方

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　　本儀器是用于鑒別和分析各種金屬和合金的組織結構，可廣泛應用在工廠或實驗室進行鑄件質量的鑒定，原材料的檢驗或對材料處理后金相組織的研究分析等。

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　　BM-8CF暗視場顯微鏡主要用于觀察結構和折射率變化有關的物體，如硅藻、放射蟲類、細菌等具有規律結構的單細胞及細胞中的線狀結構，如鞭毛、纖維等。用暗視場顯微鏡還可觀察到物鏡分辨極限以下的質點。

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　　BM-44X.9F暗視場顯微鏡主要用于觀察結構和折射率變化有關的物體，如硅藻、放射蟲類、細菌等具有規律結構的單細胞及細胞中的線狀結構，如鞭毛、纖維等。用暗視場顯微鏡還可觀察到物鏡分辨極限以下的質點。

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　　BM-44X.9相襯顯微鏡又稱相差顯微鏡，針對透明樣本因光暈而難以被觀測到細微結構的問題開發設計。該系列產品以其出色的對比度和齊全的附件，成為實驗室儀器的最佳選擇。人性化的設計減輕疲勞，適合長時間工作。

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　　BM-8CA相襯顯微鏡又稱相差顯微鏡，針對透明樣本因光暈而難以被觀測到細微結構的問題開發設計。該系列產品以其出色的對比度和齊全的附件，成為實驗室儀器的最佳選擇。人性化的設計減輕疲勞，適合長時間工作。

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　　XRD型偏光顯微熔點儀是專為材料學、生物化學、冶金學、有機化學、高分子及納米材料科學而研制。與光學或電子顯微鏡配合使用，在微觀上觀察記錄其融化、升華、結晶過程中的狀態和各種變化。

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　　59XC透反射偏光顯微鏡就是非常適用的產品，可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件，是一組具有較完備功能和良好品質的新型產品.

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　　59X系列透射偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院最常用的專業實驗儀器之一，近年來，隨著光學技術不斷進步，作為光學儀器的偏光顯微鏡，其應用也越來越廣闊，逶射偏光顯微鏡就是非常適用的產品。

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　　XSP-63X顯微鏡廣泛地應用于組織細胞學,,寄生蟲學,的研究得到了廣泛應用.

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　　XSP-63XV顯微鏡廣泛地應用于組織細胞學,寄生蟲學,的研究得到了廣泛應用.

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　　XR6A顯微熔點測定儀廣泛應用于醫藥、化工、紡織、橡膠等方面的生產化驗、檢驗；高等院校化學系等部門對單晶或共晶等有機物質的分析；工程材料和固體物理的研究；觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化等物理變化的過程提供了有利的熔點測定裝置。

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　　XR6顯微熔點測定儀廣泛應用于化工、紡織、橡膠等方面的生產化驗、檢驗；高等院校化學系等部門對單晶或共晶等有機物質的分析；工程材料和固體物理的研究；觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化等物理變化的過程提供了有利的熔點測定裝置。

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