本文標題：" 探討激光平面干涉儀在一些精密測量中的運用"
發布者：YIYI ------ 分類: 技術文章 ------ 人瀏覽過 -----時間：2014-9-16 10:10:3
探討激光平面干涉儀在一些精密測量中的運用
一、激光平面干涉儀可以通過幾何精度進行檢測、可廣泛的用來檢
測線度、垂直度、俯仰跟偏擺、平面度、平行度等等
二、可以通過位置精度來檢測數控機床的床位精度、重復定位精度
、微量位移精度等等
比一般使用的方法節省了一大半的時間、為了防止手工計算跟手動
數控鍵而產生的一些誤差、可以采用被測軸上面的補償點數、可以
使機床達到有效的精度
三、數控轉臺分度精度的檢測和自動補償、它不僅可以對任意的角
度的位置、任意角度間隔進行全自動的測量、而且精度可以達到正
負1、它比原始用的自準直儀跟多面體的方法不但更節省了大量的
測量時間、而且還得到了完整的回轉軸的精度的曲線。
后一篇文章：對紫外可見分光光度計所工作的環境及安置的環境有哪些要求 »
前一篇文章：« 熒光分光光度計試樣的選擇要求及測使用步驟
tags:光學,生物顯微鏡,精密儀器,
探討激光平面干涉儀在一些精密測量中的運用,熒光顯微鏡現貨供應
本頁地址：http://www.020jingding.com/wz/1441.html轉載注明
本站地址：http://www.020jingding.com/
http://www.xianweijing.org/
資訊中心：
延伸閱讀
- 熒光分光光度計試樣的選擇要求及測使用步驟(2014-9-15 16:42:46)
- 熒光分光光度計的主要結構(2014-9-15 10:13:52)
- 了解熒光分光光度中熒光產生的基本原理(2014-9-14 17:12:40)
- 激光干涉儀的基本原理及用途、激光有哪三個重要特點(2014-9-14 10:11:3)