本文標(biāo)題："萬(wàn)能工具顯微鏡頂尖測(cè)量盡可能在靠近刻尺的一邊進(jìn)行測(cè)量"

萬(wàn)能工具顯微鏡頂尖測(cè)量盡可能在靠近刻尺的一邊進(jìn)行測(cè)量

什么叫阿貝原則?舉例說(shuō)明之。

阿貝原則是:“測(cè)件與標(biāo)準(zhǔn)件必須配置在測(cè)量方向的同一直

線上，即測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)件應(yīng)安置在被測(cè)長(zhǎng)度的延長(zhǎng)線上。這是計(jì)

量技術(shù)的一條基本原則。測(cè)量裝置由于量具量?jī)x制造或裝配不

良(導(dǎo)軌不直、不平行、滾珠不圓等)而產(chǎn)生軸線傾斜。如果

量具量?jī)x的設(shè)計(jì)是符合阿貝原則的，那么傾斜引起的測(cè)量誤差

以二次方誤差出現(xiàn)，一般可以忽略不計(jì)。如果量具量?jī)x設(shè)計(jì)不

符合阿貝原則，則由傾斜而引起的測(cè)量誤差是以一次方形式出

現(xiàn)，誤差較大，不能忽略。因此，在量具量?jī)x設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)盡量考

慮遵守“阿貝原則”，否則必須對(duì)其所產(chǎn)生的誤差(一般為系統(tǒng)

誤差)進(jìn)行分析或采用其他措施補(bǔ)償這些誤差。

符合阿貝原則的量具量?jī)x有:深度游標(biāo)卡尺、萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)機(jī)、

阿貝比長(zhǎng)儀等。不符合的有:游標(biāo)卡尺、游標(biāo)高度尺、萬(wàn)?能?工?具?顯?微?鏡等。

游標(biāo)卡尺不符合阿貝原則，因此在測(cè)量時(shí)應(yīng)將被測(cè)零件盡可能靠近刻尺處;

萬(wàn)能工具顯微鏡縱向平面不符合阿貝原則，因此在頂尖測(cè)量時(shí)，

應(yīng)盡可能在靠近刻尺的一邊進(jìn)行測(cè)量(如測(cè)螺紋的螺距等)。

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萬(wàn)能工具顯微鏡頂尖測(cè)量盡可能在靠近刻尺的一邊進(jìn)行測(cè)量,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)