本文標題："通常環境下生產線上產品如何測試失效率"

發布者：YIYI ------ 分類: 站內動態 ------ 人瀏覽過 -----時間：2015-10-2 18:19:16

通常環境下生產線上產品如何測試失效率

   當結溫為150度(額定條件的極大值)，在通常環境下的小規模
試驗生產線上產品的預側失效率為每1000小時0.03%，在含塵量低
的環境中生產的產品每1000小時預測失效率為0.001%，而且在含塵
量低的環境中生產的產品，能通過初測的也較多。
    與產品設計之間的關系
    許多情況下，可以通過修改產品設計來避免污染的影響。硅
平面型晶體管由于表面反型層而產生漏電流過多這一情況，可以
清楚地說明產品設計、電氣性能和它對污染敏感度之間的一定關
系。
    圖2-11為器件的幾何圖形。器件由于從基極一集電極結到片
子的邊緣存在反型層而產生過大的集電極電流，這個效應稱為溝
道效應。它的集電極電壓一電流特性表示在圖2-1h中。電流可以
從基極區沿著反型層在片子邊緣流進襯底硅。片子的邊緣是一個
缺陷密度很高的位置，那里很容易發生由反型層到集電極區域之
間的擊穿。如果附加一個高摻雜擴散的防護環或“溝道塞”如圖
2-11所示，就能使這些反型層無害，這些防護環在npn和pnp兩
種晶體管中都能起作用。
 

后一篇文章：用顯微鏡觀察多數情況下計算表面污染物的數量 »
前一篇文章：« 預測額定功率條件下的失效率數碼顯微鏡測量

tags:實驗,成像儀器,技術,試驗,科技,生物顯微鏡,精密儀器,

通常環境下生產線上產品如何測試失效率,熒光顯微鏡現貨供應

本頁地址：http://www.020jingding.com/wz/2161.html轉載注明
本站地址：http://www.020jingding.com/
http://www.xianweijing.org/