本文標題："用于測試設備進行非破壞性的連續分析光譜掃描"
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用于測試設備進行非破壞性的連續分析光譜掃描
原理X一射線熒光光譜是由X-射線管的X一射線轟擊試樣
而得到的。首先這種光束在試樣上引起組成部分，以致失去X一射
線熒光光譜的性能(圖H-7),熒光是由內層電子躍遷而產生的。其
次，來自試樣的X-射線熒光由定性品體進行衍射，這種規則晶體
而可作為衍射光柵。用喬杰計數器、閃爍計數器以及其它器件如
同脈沖一樣可檢測X一射線。
靈敏度與應用在目前已發現的元素中，X一射線熒光光譜具
有較高的精密性。對于雜質在100 ppm以上的塊狀試樣也能準確
進行分析，對含有若干徽米克污染量的試樣也能以15%準確度
檢測，X一射線光譜一般可用其它測試設備進行非破壞性的連續
分析。
光譜掃描可用于定性分析，但使用這種方法，其掃描和時間消
耗有密切關系(正常的掃描約一個小時)，一般說，這種靈敏性小于
放射光譜。由于上述原因，在檢測一個試樣的多種元素時，X一射
線熒.光比放射光譜強得多，X-射線熒光光譜通常用于定ift分析，
或者對類似試樣的個別元素的濃度作比較。
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