本文標題："透射式電子顯微鏡在環境控制下觀察研究晶體材料"

發布者：YIYI ------ 分類: 站內動態 ------ 人瀏覽過 -----時間：2015-10-14 9:0:34

透射式電子顯微鏡在環境控制下觀察研究晶體材料

                  透射式電子顯徽鏡(TEM)
    光學顯微鏡的極限分辨率在很多場合受到限制，在微電子學
方面尤為明顯。微小的電子器件需要了解更精細的細節，有時就
只有采用比光學顯微鏡分辨率更好的顯微鏡，透射式電子顯微鏡
(TEM)首先用于生物學，后來義逐漸用于冶金以及其它領域。
    透射式電子顯微鏡是一種很有用的儀器，具有兩種通用特性:
一是在高放大倍數下具有好的分辨率;另一是能產生電子衍射，這
種電子衍射能像識別元件一樣，觀察研究晶體材料。這兩種特性
在環境控制研究方而都是很重要的。
    基本原理
    透射式電子顯微鏡其放大倍數可達500-100000x
左右，并共有低至5埃的極限分辨率。除高分辨率外，這種顯微
鏡還其有很大的景深。在光學顯微鏡中大的景深取決于小的孔徑
數，而分辨率卻與波長成反比。

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