本文標題："量化粗糙度量測和表面成像-顯微鏡相同的高解析度"
發布者：yiyi ------ 分類: 站內動態 ------ 人瀏覽過 -----時間：2013-2-12 1:58:16
量化粗糙度量測和表面成像-顯微鏡相同的高解析度
原子力顯微鏡對檢測半導體表面粗糙來說是一項標準的技術。但依然還有另ㄧ種比較容易使用的技術可供選擇，例如白光干涉儀(White Light Interferometry, WLI)，此項技術在快速成像較大的面積時，依然可達到與原子力顯微鏡相同的高解析度。
Roy Blunt
表面粗糙度對于鑑定半導體材料品質來說是一項重要的參考數據，但卻非常罕見其被使用在量化粗糙度的量測上。這是因為相較于使用來量化粗糙度分析的設備而言，且扣除那些使用大型硅元件生產線的昂貴全自動化系統之環境，那AFM技術對其他生產環境確實有較差的適應性。幾經評估的結果通常會使用其他替代的技術，例如諾馬斯基干涉式顯微術(Nomarski interference microscopy)，或從光學雷射散射量測法(optical
后一篇文章：如同操作一般光學顯微鏡同樣簡單 »
前一篇文章：« 工具顯微鏡廠家一般儀器制造時-視距常數誤差的原因
tags:金相,試驗,生物顯微鏡,精密儀器,
量化粗糙度量測和表面成像-顯微鏡相同的高解析度,熒光顯微鏡現貨供應
本頁地址：http://www.020jingding.com/wz/489.html轉載注明
本站地址：http://www.020jingding.com/
http://www.xianweijing.org/
資訊中心：
延伸閱讀
- 工具顯微鏡廠家一般儀器制造時-視距常數誤差的原因(2013-2-11 4:26:14)
- 圓柱磨床采用旋轉方向相是因帶動工件的方法(2013-2-9 0:54:2)
- 實蠅之超微型態特征包括頭部的複眼、單眼、觸角等(2013-2-7 5:25:56)
- 顯微鏡觀察蜚蠊的上唇以及小顎-昆蟲咀嚼式觀察(2013-2-6 5:56:6)