本文標題："黏土礦物成份和結(jié)構(gòu)的特征-礦顯微鏡"

Ｘ光粉末繞射

黏土礦物成份和結(jié)構(gòu)上大的特征反映在其d（00l）晶面間距之變化，這也是鑑定或偵測其變化的主要依據(jù)，

而Ｘ光粉末繞射是分析這種變化佳的方法。因此本計畫即以Ｘ光粉末繞射的方法分析黏土礦物的種類、混層比例和有序性、

以及鑑定黏土礦物中是否含有NH4+或其它層間物質(zhì)。

(1) 取樣：巖心采集由主計畫統(tǒng)籌規(guī)劃海研一號697及718航次采集箱式及活塞巖心(3寸直徑)，

選擇了G1、G3、G4、G5A、G6、G15、G17、G22、G23、G24、N4、N6、N9及N13等14測站14個沉積物箱型巖心標本，

以及A-P1、B-P1、C-P1、D-P1、G1-P1、G2-P2、G3-P1、G4-P1、G5A-P1、G6-P1、G10-P1、G15-P1、G17-P1、G19-P1、G21-P1、G22-P1、G23-P1、G24-P1

N4-P1、N6-P1、N9-P1及N13-P1等22測站140個沉積物活塞巖心標本，進行分析。活塞巖心原則上每50公分深度取樣5公分厚度之沉積物，

各測站標本之基本資料列于表

(2) 標本保存：以瓶封置冷藏柜保持在4°C。

(3) 順向試片制作：試樣經(jīng)蒸餾水清洗可溶性鹽類，標本因富含有機質(zhì)或碳酸鹽礦物，而可能干擾黏土礦物之分離，

研究依Kunze and Dixon（1986）之化學方法除去之；碳酸鹽以醋酸鈉去除之，碳物質(zhì)則以雙氧水去除之。處理后之標本以高速控溫離心機清洗并分離＜2 ?m之物質(zhì)，

其后再進行鎂飽和處理、清洗及離心收集等步驟，后再略稀釋后以滴管滴置于玻璃片靜置風乾。

這些方法經(jīng)本研究測試結(jié)果顯示并未對銨云母或其他黏土礦物有破壞其特征之現(xiàn)象。

(4) 試片處理：前述風乾順向試片經(jīng)取得Ｘ光繞射圖后，再經(jīng)乙二醇飽和處理，另取得乙二醇處理后之Ｘ光繞射圖。

(5) 繞射實驗：分別進行各項順向試片之Ｘ光繞射實驗，以CuKα Ｘ光光源取得2-35°2θ?范圍之繞射圖。

實驗儀器使用成功大學地球科學系Rigaku 4056A2 B2701 Ｘ光繞射儀，實驗條件采用30 kV電壓、20 mA電流、鎳濾波片、1°

分散狹縫、0.1°接收狹縫、1°反散射狹縫、每分鐘1°2θ掃瞄速度及0.01°2?行進間距。

(6) 資料分析：黏土礦物之鑑定參考Moore and Reynolds（1989）分析所取得之Ｘ光粉末繞射圖，

晶面間距為~1.7 nm (~5°2θ)、~1.0 nm (~8.9°)和~0.7 nm (~12.5°)之繞射峰分別用以鑑定膨潤石、

伊萊石和綠泥石。原預(yù)定使用混層黏土礦物之比例及有序性將另配合R. C. Reynolds, Jr.之Newmod之Ｘ光粉末繞射模擬計算軟體進行分析，

但因所研究之標本以膨潤石、伊萊石及綠泥石為主，并未采用

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