本文標(biāo)題："電子衍射來檢視微粒結(jié)晶是否表面結(jié)構(gòu)得以再生"

電子衍射來檢視微粒結(jié)晶是否表面結(jié)構(gòu)得以再生

被制得很薄的樣品，為大面積結(jié)構(gòu)檢視提供了方便，可以直接

觀測(cè)結(jié)晶的大小、位錯(cuò)、晶體取向、雜質(zhì)和相位的化學(xué)性質(zhì)等特性。

但樣品的致薄工作是帶有破壞性的，所以不適于作表面圖形的檢

視，樣品的制備是比較困難的。對(duì)于一定的樣品材料，要看能不

能找到適當(dāng)?shù)母g劑進(jìn)行腐蝕。

復(fù)制法在制備技術(shù)中比較簡(jiǎn)單，是將塑料溶于溶劑而成為溶

液，例如聚乙烯或膠棉濟(jì)液，涂于樣品表面并使之干固。再在由此

形成的薄膜上蔽覆金屬薄層，如鉑之類，以便取得比薄膜本身所能

獲得的更好的反差效果。

復(fù)制法為檢視樣品表面細(xì)節(jié)提供了新的辦法，一般不會(huì)損傷

樣品表面，或者影響其它分析和測(cè)試。采用這種方法，相對(duì)來說，

比較簡(jiǎn)捷，并可用于粗糙的樣品。如果表面有污染的粒子也可隨

薄膜取掉。在這種情況下，可采用電子衍射來檢視微粒。復(fù)制的好

處能使那些必須檢視的表面結(jié)構(gòu)得以再生。由于景深遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過一

般光學(xué)顯微鏡，所以粗糙的表面結(jié)構(gòu)也易于觀察。復(fù)制法的極限分

辨率約在50埃左右，它比掃描電子顯微鏡的極限分辨率好得多。

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