本文標題："電子顯微鏡技術(shù)發(fā)展簡介-什么時候發(fā)明的"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 站內(nèi)動態(tài) ------ 人瀏覽過 -----時間：2013-1-12 5:17:18
電子顯微鏡技術(shù)發(fā)展簡介
電子顯微鏡發(fā)展
1924年法國物理學家de Broglie提出電子具有波動性質(zhì)的理論，之后就有人提出電子顯微術(shù)
(Electron Microscopy)的想法。理論上，只要經(jīng)數(shù)萬伏特加速的電子束，它的波長就可縮短
到0.1Å以下，材料的原子排列情形應(yīng)可清清楚楚的看到。
1934年，德國人Ruska發(fā)明了穿透
式電子顯微鏡．開啟了新的紀元，往后數(shù)十年的發(fā)展，改良了用來使電子束聚焦的磁場或靜
電場透鏡，降低了難以克服的像差問題，電子顯微鏡一直到1970年代才第一次看到原子量很
大的 原子，把微米世界推向了原子的世界
后一篇文章：電子顯微鏡廣泛地應(yīng)用在物理化學等研究領(lǐng)域 »
前一篇文章：« 近紅外線光學原理量測植株葉片葉綠素含量
tags:技術(shù),生物顯微鏡,精密儀器,
電子顯微鏡技術(shù)發(fā)展簡介-什么時候發(fā)明的,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁地址：http://www.020jingding.com/wz/448.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：http://www.020jingding.com/
http://www.xianweijing.org/
資訊中心：
延伸閱讀
- 近紅外線光學原理量測植株葉片葉綠素含量(2013-1-12 0:13:27)
- 測量顯微鏡檢測元件晶圓的幾何結(jié)構(gòu)(2013-1-11 5:39:18)
- 晶圓顯微鏡廠商-光學顯微鏡檢測電極蝕刻結(jié)果實驗(2013-1-10 1:14:6)
- 金屬材料研究分析原材料的特點-上海光學儀器一廠(2013-1-9 5:51:46)