本文標(biāo)題："電子顯微鏡廣泛地應(yīng)用在物理化學(xué)等研究領(lǐng)域"

X光吸收光譜分析

同步輻射是一種光源，其本質(zhì)與傳統(tǒng)之X光相同，均為電磁波，它的產(chǎn)生是由電子束在光速下進(jìn)行圓周運(yùn)動(dòng)而發(fā)射出來的。

其產(chǎn)生之高亮度X光(或UV光)，已被廣泛地應(yīng)用在物理化學(xué)等各研究領(lǐng)域上。

利用同步輻射光源對(duì)材料進(jìn)行X光吸收光譜研究，主要包括X光近緣結(jié)構(gòu)(X-rayAbsorption Near-Edge Structure，簡稱為XANES)

及延伸X光吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(Extended X-ray Absorption Fine Structure，簡稱為EXAFS)。

其中XANES可以用來檢測材料中特定原子之電子組態(tài)，而EXAFS可被用來測定原子之區(qū)域結(jié)構(gòu)(Local Structure)，

得知原子與其鄰近原子間之距離、種類及數(shù)目等。X光吸收光譜可發(fā)揮其在原子短程結(jié)構(gòu)及電子組

態(tài)上之優(yōu)點(diǎn)，與傳統(tǒng)XRD長程有序分析及TEM等結(jié)果相互配合，可使我們更加了解奈米材料之結(jié)構(gòu)特性

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電子顯微鏡廣泛地應(yīng)用在物理化學(xué)等研究領(lǐng)域,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)